双MOS门极控制的EST的开关特性和安全T作区 | |
张昌利; 陈治明; 闵源基; 金相哲; 朴钟文; 金南均; 金垠东 | |
2000 | |
卷号 | 21页码:274-279 |
关键词 | 开关特性 安全工作区 双MOS门极控制EST |
ISSN号 | 0253-4177 |
DOI | 10.3321/j.issn:0253-4177.2000.03.013 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5445829 |
专题 | 西安理工大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张昌利,陈治明,闵源基,等. 双MOS门极控制的EST的开关特性和安全T作区[J],2000,21:274-279. |
APA | 张昌利.,陈治明.,闵源基.,金相哲.,朴钟文.,...&金垠东.(2000).双MOS门极控制的EST的开关特性和安全T作区.,21,274-279. |
MLA | 张昌利,et al."双MOS门极控制的EST的开关特性和安全T作区".21(2000):274-279. |
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