| 双MOS门极控制的EST的开关特性和安全T作区 | |
| 张昌利; 陈治明; 闵源基; 金相哲; 朴钟文; 金南均; 金垠东 | |
| 2000 | |
| 卷号 | 21页码:274-279 |
| 关键词 | 开关特性 安全工作区 双MOS门极控制EST |
| ISSN号 | 0253-4177 |
| DOI | 10.3321/j.issn:0253-4177.2000.03.013 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5445829 |
| 专题 | 西安理工大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张昌利,陈治明,闵源基,等. 双MOS门极控制的EST的开关特性和安全T作区[J],2000,21:274-279. |
| APA | 张昌利.,陈治明.,闵源基.,金相哲.,朴钟文.,...&金垠东.(2000).双MOS门极控制的EST的开关特性和安全T作区.,21,274-279. |
| MLA | 张昌利,et al."双MOS门极控制的EST的开关特性和安全T作区".21(2000):274-279. |
| 个性服务 |
| 查看访问统计 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论