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	Automatic defect-detection for inside and outside surfaces of hemispherical shell
	Le, J; Guo, JJ; Zhu, H; Fang, HY; Wang, W; He, JD; Zhang, ZX
	2002
会议名称	International Symposium on Precision Mechanical Measurements
会议日期	2002-08-11
会议地点	HEFEI, PEOPLES R CHINA
关键词	hemispherical shell surface defect image measurement measurement method specular surfaces
页码	79-85
会议录	PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON PREC
URL标识	查看原文
WOS记录号	WOS:000180755900018
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5442692
专题	西安理工大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Le, J,Guo, JJ,Zhu, H,et al. Automatic defect-detection for inside and outside surfaces of hemispherical shell[C]. 见:International Symposium on Precision Mechanical Measurements. HEFEI, PEOPLES R CHINA. 2002-08-11.

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