Indentation size effect in microhardness measurements of Hg1-xMnxTe | |
Wang Ze-wen; Jie Wan-qi; Wang Xiao-qin | |
2009 | |
卷号 | 19页码:S762-S766 |
关键词 | Hg1-xMnxTe indentation size effect microhardness |
ISSN号 | 1003-6326 |
DOI | 10.1016/S1003-6326(10)60147-1 |
URL标识 | 查看原文 |
WOS记录号 | WOS:000272501300045 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5423788 |
专题 | 西安理工大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Wang Ze-wen,Jie Wan-qi,Wang Xiao-qin. Indentation size effect in microhardness measurements of Hg1-xMnxTe[J],2009,19:S762-S766. |
APA | Wang Ze-wen,Jie Wan-qi,&Wang Xiao-qin.(2009).Indentation size effect in microhardness measurements of Hg1-xMnxTe.,19,S762-S766. |
MLA | Wang Ze-wen,et al."Indentation size effect in microhardness measurements of Hg1-xMnxTe".19(2009):S762-S766. |
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