CORC  > 上海电子信息职业技术学院
基于无线信道传播模型的2.45G有源RFID性能研究
姜祁峰; 丁立业; 李雨翔; 陈彬
2016
关键词传播模型 路径损耗 通信性能 测试验证 频谱仪 通信技术 反向链路 测试方法 源模型 发射功率
ISSN号1681-5289
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页码79-84
出处中国集成电路
卷号第25卷
内容类型其他
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5412069
专题上海电子信息职业技术学院
作者单位1.北京中科国技信息系统有限公司
2.上海集成电路技术与产业促进中心/上海射频识别工程技术研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
姜祁峰,丁立业,李雨翔,等. 基于无线信道传播模型的2.45G有源RFID性能研究. 2016-01-01.
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