| 基于光纤微电流传感技术的劣化绝缘子检测 | |
| 何冰[1]; 靳鹏飞[2]; 王宗洋[3]; 裴蕴智[4]; 李伟[5] | |
| 刊名 | 功能材料与器件学报
 |
| 2018 | |
| 期号 | 03页码:185-190 |
| 关键词 | 绝缘子串微电流 MEMS光纤微电流传感器 劣化绝缘子检测 |
| ISSN号 | 1007-4252 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5329037 |
| 专题 | 江苏大学 |
| 作者单位 | 1.国网上海市电力公司检修公司 2.江苏大学机械工程学院 3.中光华研电子科技有限公司 4.中国科学院上海微系统与信息技术研究所信息功能材料国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 何冰[1],靳鹏飞[2],王宗洋[3],等. 基于光纤微电流传感技术的劣化绝缘子检测[J]. 功能材料与器件学报,2018(03):185-190. |
| APA | 何冰[1],靳鹏飞[2],王宗洋[3],裴蕴智[4],&李伟[5].(2018).基于光纤微电流传感技术的劣化绝缘子检测.功能材料与器件学报(03),185-190. |
| MLA | 何冰[1],et al."基于光纤微电流传感技术的劣化绝缘子检测".功能材料与器件学报 .03(2018):185-190. |
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