全光固体超快探测芯片、全光固体超快探测器及其探测方法

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	全光固体超快探测芯片、全光固体超快探测器及其探测方法
	汪韬; 高贵龙; 何凯; 闫欣; 田进寿; 李少辉; 尹飞; 辛丽伟
	2019-07-03
著作权人	中国科学院西安光学精密机械研究所
专利号	CN201910594755.1
国家	中国
文献子类	发明专利
产权排序	1
英文摘要	本发明提供了一种全光固体超快探测芯片、全光固体超快探测器及其探测方法，解决现有超快诊断设备无法同时具备高时间分辨率、高空间分辨率性能，以及现有电子光学电真空超快诊断设备诊断效果差的问题。其中芯片包括沿入射信号光传输方向依次设置的调制光栅、光学膜系、半导体超快响应材料GaAs/AlGaAs多量子阱结构、第一增透膜、基片及第二增透膜，信号光入射调制光栅，探针光入射第二增透膜；所述光学膜系对信号光进行增透、对探针光进行增反；所述半导体超快响应材料GaAs/AlGaAs多量子阱结构用于探测信号光，并经调制光栅调制，在半导体超快响应材料GaAs/AlGaAs多量子阱结构内部形成与信号光相对应的空间分布图样；所述第一增透膜和第二增透膜对探针光进行增透。
公开日期	2019-11-01
申请日期	2019-07-03
语种	中文
状态	申请中
内容类型	专利
源URL	[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/32084]
专题	条纹相机工程中心
推荐引用方式 GB/T 7714	汪韬,高贵龙,何凯,等. 全光固体超快探测芯片、全光固体超快探测器及其探测方法. CN201910594755.1. 2019-07-03.