| 一种利用单光束激光进行准直/轴对中测量的方法 | |
| 龚正烈 | |
| 2005-08-31 | |
| 著作权人 | 天津理工学院 |
| 专利号 | CN1217154C |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 一种利用单光束激光进行准直/轴对中测量的方法 |
| 英文摘要 | 本发明属于利用激光进行精密测量的技术。其技术方案是：将半导体激光器LD和位敏探测器PSD分别安装到待对中的两轴上，以半导体激光器LD支柱的轴线与从动轴B的轴线之交点为坐标原点O，作直角坐标系O-XYZ，X轴沿半导体激光器LD支柱的轴线向上，Z轴沿从动轴B的轴线向右，Y轴则垂直于纸面向外。本发明提供了以半导体激光器LD和位敏探测器PSD作为测量仪器及其测量数据处理的数学模型，该测量方法不仅其装置结构简单，而且扩大了功能，可兼作激光准直仪使用，而且其数学模型还可用于对计算机采集的数据进行处理。 |
| 公开日期 | 2005-08-31 |
| 申请日期 | 2001-12-26 |
| 状态 | 失效 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/43197]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 天津理工学院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 龚正烈. 一种利用单光束激光进行准直/轴对中测量的方法. CN1217154C. 2005-08-31. |
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