| 提高半导体激光正弦相位调制干涉仪振动测量精度的方法 | |
| 李中梁; 王向朝; 王渤帆 | |
| 2014-04-09 | |
| 著作权人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 专利号 | CN102169012B |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 提高半导体激光正弦相位调制干涉仪振动测量精度的方法 |
| 英文摘要 | 一种提高半导体激光正弦相位调制干涉仪振动测量精度的方法，通过合理地选择正弦相位调制深度，从原理上消除了光源的光强调制引起的系统误差，减小了电路中的直流噪声引起的随机误差，提高了振动测量精度。 |
| 公开日期 | 2014-04-09 |
| 申请日期 | 2011-01-11 |
| 状态 | 授权 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/42854]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李中梁,王向朝,王渤帆. 提高半导体激光正弦相位调制干涉仪振动测量精度的方法. CN102169012B. 2014-04-09. |
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