| 用于激光和发光二极管的温度测量和控制 | |
| L·D·卡斯蒂略; D·伊 | |
| 2014-04-16 | |
| 著作权人 | 微软技术许可有限责任公司 |
| 专利号 | CN102313610B |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 用于激光和发光二极管的温度测量和控制 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种用于激光和发光二极管的温度测量和控制方法和系统。使用LED或激光二极管封装中的现有二极管来测量LED或激光二极管的结温度。二极管的光或激光发射通过去除施加到二极管封装的工作驱动电流来关闭。可以比工作驱动电流低的基准电流被施加到二极管封装。二极管的所得的正向电压使用电压测量电路来测量。使用二极管的固有的电流-电压-温度关系，可确定二极管的实际结温度。所得的正向电压可以在反馈回路中使用，以便在确定或不确定实际结温度的情况下提供对二极管封装的温度调节。二极管封装中的光电二极管或发射二极管的所测得的正向电压可用于确定发射二极管的结温度。 |
| 公开日期 | 2014-04-16 |
| 申请日期 | 2011-03-30 |
| 状态 | 授权 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/41229]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 微软技术许可有限责任公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | L·D·卡斯蒂略,D·伊. 用于激光和发光二极管的温度测量和控制. CN102313610B. 2014-04-16. |
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