一种新型半导体激光器相位噪声测试装置
孙章考; 赵雪雅; 郭水涛
2018-08-24
著作权人奥兰若科技(深圳)有限公司
专利号CN207763926U
国家中国
文献子类实用新型
其他题名一种新型半导体激光器相位噪声测试装置
英文摘要本实用新型公开了一种新型半导体激光器相位噪声测试装置,包括测试机主体,所述测试机主体的前端外表面活动安装有旋转底板,且旋转底板的上端外表面固定安装有控制键盘,所述旋转底板的上端外表面靠近控制键盘的一侧固定安装有触控面板,所述测试机主体的前端内表面固定安装有显示面板,且测试机主体的前端外表面靠近显示面板的一侧固定安装有控制开关,所述测试机主体的前端外表面靠近控制开关的上方活动安装有调节旋钮。本实用新型所述的一种新型半导体激光器相位噪声测试装置,设有旋转底板、伸缩把手与散热罩,能够对其原有结构进行改进,使得设备的携带更加便捷,增加其自身防尘和散热效果,带来更好的使用前景。
公开日期2018-08-24
申请日期2018-01-30
状态授权
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/41204]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位奥兰若科技(深圳)有限公司
推荐引用方式
GB/T 7714
孙章考,赵雪雅,郭水涛. 一种新型半导体激光器相位噪声测试装置. CN207763926U. 2018-08-24.
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace