| 多发光单元半导体激光器空间阈值电流的测试方法及装置 | |
王贞福 ; 刘兴胜
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| 2017-04-12 | |
| 著作权人 | 西安炬光科技股份有限公司 |
| 专利号 | CN103529274B |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 多发光单元半导体激光器空间阈值电流的测试方法及装置 |
| 英文摘要 | 本发明提供一种多发光单元半导体激光器空间阈值电流的测试方法，有以下步骤：对多发光单元半导体激光器发出的光进行快、慢轴准直；在快慢轴准直镜的后面放置显微物镜，用于半导体激光器多个发光单元在空间上放大，放大后的发光单元通过孔径光阑将各个独立的发光单元分离出来，调节孔径光阑的位置以及通光孔径只允许一个发光单元的光通过；通过改变驱动电流的大小，获得该发光单元相应的输出光功率；依次得到每个发光单元的阈值电流；形成空间阈值电流信息图。本发明能够测量多发光单元半导体激光器的空间阈值电流信息，进而实现评价半导体激光器封装所所产生的应力，从而指导和改善封装工艺。 |
| 公开日期 | 2017-04-12 |
| 申请日期 | 2013-10-24 |
| 状态 | 授权 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/41179]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 西安炬光科技股份有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王贞福,刘兴胜. 多发光单元半导体激光器空间阈值电流的测试方法及装置. CN103529274B. 2017-04-12. |
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