| 一种测量单模光纤几何参数的方法 | |
| 刘豪; 吴重庆; 刘永椿 | |
| 2010-09-08 | |
| 著作权人 | 北京交通大学 |
| 专利号 | CN101476978B |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 一种测量单模光纤几何参数的方法 |
| 英文摘要 | 一种测量单模光纤几何参数的方法，利用普通激光器作为光源，通过带透镜的精密五维调整架和光纤夹把光耦合进光纤，利用CCD或其他成像系统进行数据采集，把得到的数据用电脑进行分析，用Mathematica数学软件对测量到的可见光下的光强分布图进行处理和计算，用非线性最小二乘拟合法计算出光纤的几何参数，包括纤芯折射率n1，包层折射率n2，纤芯半径a。利用普通半导体激光器作为光源，使用方便，所需要的设备少，成本低廉，并且对环境没有严格的要求。利用可见光波段进行测量，避免使用价格昂贵的红外探测器和红外激光光源，同时便于用肉眼调整，也便于光强信息的采集。利用CCD探测光纤输出端的光强分布，能进行全场测量，一次性取齐全部数据，避免使用机械移动的扫描设备。 |
| 公开日期 | 2010-09-08 |
| 申请日期 | 2009-01-23 |
| 状态 | 失效 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/39898]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 北京交通大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘豪,吴重庆,刘永椿. 一种测量单模光纤几何参数的方法. CN101476978B. 2010-09-08. |
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