制造发光设备的方法和发光模块检查设备 | |
朴大绪; 李嘉兰; 金秋浩 | |
2019-05-17 | |
著作权人 | 三星电子株式会社 |
专利号 | CN105591012B |
国家 | 中国 |
文献子类 | 授权发明 |
其他题名 | 制造发光设备的方法和发光模块检查设备 |
英文摘要 | 本发明提供了一种制造发光设备的方法和发光模块检查设备。所述制造发光设备的方法包括:将衬底设置在支承件上;将包括发光装置的发光封装件设置在衬底上,以使得发光封装件位于衬底上的目标位置;将能量施加至发光封装件,以使得发光装置发光;以及分析由于能量而从发光装置发射的光,并且确定发光封装件实际设置的位置。因此,可容易地并低成本地制造发光设备,并且可产生有限数量的斑点并提供改进的均匀亮度。 |
公开日期 | 2019-05-17 |
申请日期 | 2015-11-11 |
状态 | 授权 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/39620] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 三星电子株式会社 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 朴大绪,李嘉兰,金秋浩. 制造发光设备的方法和发光模块检查设备. CN105591012B. 2019-05-17. |
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