一种基于同步移相干涉技术的纳米测量仪
王腾远; 茹媛; 徐潇雅; 高怡雯; 武佳美; 秦朝朝
2019-03-12
著作权人河南师范大学
专利号CN208595878U
国家中国
文献子类实用新型
其他题名一种基于同步移相干涉技术的纳米测量仪
英文摘要本实用新型公开了一种基于同步移相干涉技术的纳米测量仪,包括相干光源及偏振延迟系统和同步移相系统,相干光源及偏振延迟系统包括半导体激光器、1/2λ波片、第一1/4λ波片、第一全反镜、第二1/4λ波片、第二全反镜、偏振分光棱镜、一维导轨,同步移相系统包括反射镜、第一光阑、第一透镜、第三1/4λ波片、第二透镜、第二光阑、偏振片组、第三透镜、CCD、数据采集卡、计算机和二维正交全息光栅,激光器和偏振分光棱镜之间设置有1/2λ波片,偏振分光棱镜和第一全反镜、第二全反镜之间分别设置有第一1/4λ波片和第二1/4λ波片。本实用新型解决振动产生对测量结果影响问题,具有超强的抗干扰能力,能够实现高精度的测量。
公开日期2019-03-12
申请日期2018-08-08
状态授权
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38296]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位河南师范大学
推荐引用方式
GB/T 7714
王腾远,茹媛,徐潇雅,等. 一种基于同步移相干涉技术的纳米测量仪. CN208595878U. 2019-03-12.
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