一种低功率半导体激光器测试设备
刘增红; 常浩; 薛良
2019-01-22
著作权人拓闻(天津)电子科技有限公司
专利号CN208420674U
国家中国
文献子类实用新型
其他题名一种低功率半导体激光器测试设备
英文摘要本实用新型公开了一种低功率半导体激光器测试设备,包括底架、U型板、待测激光器、滑轨、衰减片、滤光片、成像屏、支撑板、CCD摄像机、计算机、滑块、U型杆、卡齿和齿条,所述底架顶部固定连接有U型板,所述U型板内嵌入安装有待测激光器,所述底架顶部位于待测激光器一侧开设有方形槽,所述方形槽内设有滑轨,所述滑轨两端分别与对应的方形槽一侧内壁固定连接,所述底架顶部位于方形槽上方依次设有衰减片和滤光片,所述衰减片和滤光片底部均固定连接有滑块,所述滑块均套在滑块外侧,且滑块与滑轨滑动连接,所述滑块与底架垂直的一侧均开设有U型槽,该设备准直效果好,检测方便,可以准确的检测出激光器的稳定性。
公开日期2019-01-22
申请日期2018-08-10
状态授权
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38095]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位拓闻(天津)电子科技有限公司
推荐引用方式
GB/T 7714
刘增红,常浩,薛良. 一种低功率半导体激光器测试设备. CN208420674U. 2019-01-22.
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