| 一种测试系统 | |
| 胡海; 刘文斌; 王泰山; 李成鹏; 李国泉 | |
| 2019-01-11 | |
| 著作权人 | 深圳瑞波光电子有限公司 |
| 专利号 | CN208367163U |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 一种测试系统 |
| 英文摘要 | 本申请涉及一种测试系统，用于测试半导体激光芯片，测试系统包括上下料装置、探针组件和积分球组件；上下料装置包括多个工位，多个工位用于放置待测芯片；探针组件包括若干探针，若干探针设置在所述待测芯片的上方；积分球组件包括积分球，积分球设有开口，所述开口靠近所述待测芯片设置；当所述电流通过所述探针流经所述待测芯片的引脚时，所述开口接收到所述待测芯片发出的光信号。本申请通过将探针组件和积分球组件分别设置为可以沿竖直方向和水平方向移动，一方面保护了检测元件，延长了使用寿命，另一方面通过有序的运动进一步提高了测试速度。 |
| 公开日期 | 2019-01-11 |
| 申请日期 | 2018-06-08 |
| 状态 | 授权 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38046]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 深圳瑞波光电子有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 胡海,刘文斌,王泰山,等. 一种测试系统. CN208367163U. 2019-01-11. |
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