QQ客服 官方微博 反馈留言

	半導体集積回路装置、半導体集積回路装置を用いた光走査装置及び戻り光識別方法並びに光走査装置を用いた画像形成装置
	岩崎 充孝
	2012-08-03
著作权人	株式会社リコー
专利号	JP5053204B2
国家	日本
文献子类	授权发明
其他题名	半導体集積回路装置、半導体集積回路装置を用いた光走査装置及び戻り光識別方法並びに光走査装置を用いた画像形成装置
英文摘要	【課題】 初期化動作において、戻り光の有無にかかわらず、レーザダイオードを点灯させる電流値を適切な値に決定できる半導体集積回路装置、半導体集積回路装置を用いた光走査装置、及び、光走査装置における戻り光識別方法、並びに、光走査装置を用いた画像形成装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 光量検出手段に入射される入射光量に基づいて、光源から出射される出射光量を目標値になるように制御する半導体集積回路装置であって、前記目標値に対応する基準電圧を生成する基準電圧生成手段と、前記入射光量に対応する電圧と前記基準電圧とを比較する比較手段と、前記比較手段の比較結果に基づいて、前記光源に供給する駆動電流を制御する駆動電流制御手段と、を備え、前記駆動電流制御手段は、前記入射光量が、不連続的に発生する戻り光の光量を含んでいるか否かを識別する戻り光識別手段を有することを特徴とする。 【選択図】 図4
公开日期	2012-10-17
申请日期	2008-08-08
状态	授权
内容类型	专利
源URL	[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/34021]
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	株式会社リコー
推荐引用方式 GB/T 7714	岩崎 充孝. 半導体集積回路装置、半導体集積回路装置を用いた光走査装置及び戻り光識別方法並びに光走査装置を用いた画像形成装置. JP5053204B2. 2012-08-03.

个性服务

查看访问统计

相关权益政策

暂无数据

收藏/分享

除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。