氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析

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	氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析
	赵青; 常爱民; 简家文; 巴维真; 李志军
刊名	功能材料
	2004
卷号	35 期号:z1 页码:936-938
关键词	YSZ 微波烧结复阻抗电导率
ISSN号	1001-9731
其他题名	impedance spectroscopy of microwave sintered yttria stabilized zirconia (ysz)
中文摘要	研究了8mol%Y2O3掺杂ZrO2(8YSZ)材料微波烧结陶瓷在300～850℃温度范围内的交流复阻抗谱,获得了该材料的温度-离子电导率曲线,并与常规烧结的陶瓷体进行了比较.结果发现8YSZ的微波烧结陶瓷的晶界势垒在550℃被击穿,常规烧结陶瓷的晶界势垒在500℃被击穿.击穿后晶界电阻消失,离子电导率的变化主要由晶粒电导率的变化决定.在击穿温度点以下,陶瓷体的离子电导率随温度的升高呈波浪式上升,即曲线呈上升～下降～上升趋势.
公开日期	2012-11-29
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2252]
专题	新疆理化技术研究所_材料物理与化学研究室
作者单位	中国科学院新疆理化技术研究所；电子科技大学微电子与固体电子学院；新疆大学物理系
推荐引用方式 GB/T 7714	赵青,常爱民,简家文,等. 氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析[J]. 功能材料,2004,35(z1):936-938.
APA	赵青,常爱民,简家文,巴维真,&李志军.(2004).氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析.功能材料,35(z1),936-938.
MLA	赵青,et al."氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析".功能材料 35.z1(2004):936-938.