CORC  > 河南大学
溅射压强对ATO透明导电薄膜性能的影响
杨啸威[1]; 杨文豪[2]; 于仕辉[3]; 丁玲红[4]; 张伟风[5]
刊名电子元件与材料
2014
卷号33期号:1页码:9-11
关键词Sb-SnO2薄膜 磁控溅射 溅射压强 光学性能 电学性能 透明导电
ISSN号1001-2028
DOIhttp://dx.doi.org/10.3969/j.issn.1001-2028.2014.01.003
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收录类别中国科技核心期刊CSCD
内容类型期刊论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5235367
专题河南大学
作者单位[1]河南大学物理与电子学院,河南开封,475004[2]河南大学物理与电子学院,河南开封,475004[3]河南大学物理与电子学院,河南开封,475004[4]河南大学物理与电子学院,河南开封,475004[5]河南大学物理与电子学院,河南开封,475004
推荐引用方式
GB/T 7714
杨啸威[1],杨文豪[2],于仕辉[3],等. 溅射压强对ATO透明导电薄膜性能的影响[J]. 电子元件与材料,2014,33(1):9-11.
APA 杨啸威[1],杨文豪[2],于仕辉[3],丁玲红[4],&张伟风[5].(2014).溅射压强对ATO透明导电薄膜性能的影响.电子元件与材料,33(1),9-11.
MLA 杨啸威[1],et al."溅射压强对ATO透明导电薄膜性能的影响".电子元件与材料 33.1(2014):9-11.
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