CORC  > 河北大学
基于改进分水岭算法的硅片缺陷提取方法
胡雅颖[1]; 齐鸿志[2]; 张凤全[3]
刊名微计算机信息
2009
卷号25期号:9页码:296-297
关键词图像处理 缺陷检测 形态滤波 分水岭 过分割
ISSN号1008-0570
DOIhttp://dx.doi.org/10.3969/j.issn.1008-0570.2009.09.123
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内容类型期刊论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5114322
专题河北大学
作者单位1.河北大学计算中心,河北,071000
2.河北工业大学,河北,300130
推荐引用方式
GB/T 7714
胡雅颖[1],齐鸿志[2],张凤全[3]. 基于改进分水岭算法的硅片缺陷提取方法[J]. 微计算机信息,2009,25(9):296-297.
APA 胡雅颖[1],齐鸿志[2],&张凤全[3].(2009).基于改进分水岭算法的硅片缺陷提取方法.微计算机信息,25(9),296-297.
MLA 胡雅颖[1],et al."基于改进分水岭算法的硅片缺陷提取方法".微计算机信息 25.9(2009):296-297.
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