CORC  > 河北大学
高介电栅介质ZrO2薄膜的物理电学性能
武德起[1]; 姚金城[2]; 赵红生[3]; 常爱民[4]; 李锋[5]; 周阳[6]
刊名河北大学学报(自然科学版)
2009
卷号29期号:5页码:484-488,554
关键词ZrO2薄膜 高介电栅介质 等效厚度 漏电流
ISSN号1000-1565
DOIhttp://dx.doi.org/10.3969/j.issn.1000-1565.2009.05.010
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内容类型期刊论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5111214
专题河北大学
作者单位1.中国科学院新疆理化技术研究所,新疆乌鲁木齐,830011
2.中国科学院半导体所,北京,100038
3.中国科学院研究生院,北京,100049
4.中国科学院新疆理化技术研究所,新疆乌鲁木齐,830011
5.中国科学院新疆理化技术研究所,新疆乌鲁木齐,830011
6.中国科学院研究生院,北京,100049
7.河北大学物理科学与技术学院,河北保定,071002
推荐引用方式
GB/T 7714
武德起[1],姚金城[2],赵红生[3],等. 高介电栅介质ZrO2薄膜的物理电学性能[J]. 河北大学学报(自然科学版),2009,29(5):484-488,554.
APA 武德起[1],姚金城[2],赵红生[3],常爱民[4],李锋[5],&周阳[6].(2009).高介电栅介质ZrO2薄膜的物理电学性能.河北大学学报(自然科学版),29(5),484-488,554.
MLA 武德起[1],et al."高介电栅介质ZrO2薄膜的物理电学性能".河北大学学报(自然科学版) 29.5(2009):484-488,554.
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