| X射线能谱微区分析中出射角对X射线强度的影响 | |
| 仇满德[1]; 秦向东[2]; 白国义[3]; 翟永清[4]; 姚子华[5] | |
| 刊名 | 电子显微学报
 |
| 2010 | |
| 卷号 | 29期号:5页码:430-436 |
| 关键词 | 出射角 外全反射 SEM-EDS X射线强度 薄膜 |
| ISSN号 | 1000-6281 |
| DOI | http://dx.doi.org/10.3969/j.issn.1000-6281.2010.05.005 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5105853 |
| 专题 | 河北大学 |
| 作者单位 | [1]河北大学化学与环境科学学院,河北,保定,071002[2]河北大学化学与环境科学学院,河北,保定,071002[3]河北大学化学与环境科学学院,河北,保定,071002[4]河北大学化学与环境科学学院,河北,保定,071002[5]河北大学化学与环境科学学院,河北,保定,071002 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 仇满德[1],秦向东[2],白国义[3],等. X射线能谱微区分析中出射角对X射线强度的影响[J]. 电子显微学报,2010,29(5):430-436. |
| APA | 仇满德[1],秦向东[2],白国义[3],翟永清[4],&姚子华[5].(2010).X射线能谱微区分析中出射角对X射线强度的影响.电子显微学报,29(5),430-436. |
| MLA | 仇满德[1],et al."X射线能谱微区分析中出射角对X射线强度的影响".电子显微学报 29.5(2010):430-436. |
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