CORC  > 西安理工大学
溅射系统中(Ar&H)-Si系等离子体的Langmuir探针诊断
郭维华; 蒋百灵; 李洪涛; 曹政; 郭烈萍
2010
会议名称第十二届全国固体薄膜会议论文集中国电子学会
会议地点南宁
关键词磁控溅射 Langmuir探针 氢分压 等离子体
页码265-268
URL标识查看原文
内容类型会议论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5042291
专题西安理工大学
推荐引用方式
GB/T 7714
郭维华,蒋百灵,李洪涛,等. 溅射系统中(Ar&H)-Si系等离子体的Langmuir探针诊断[C]. 见:第十二届全国固体薄膜会议论文集中国电子学会. 南宁.
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace