沉积方式对HfO_2薄膜激光损伤阈值的影响
阚珊珊
刊名华中科技大学学报
2007-06-30
期号S1
中文摘要分别采用电子束蒸镀、离子束辅助沉积、离子束反应辅助沉积、双离子束溅射技术制备了二氧化铪薄膜,研究了薄膜的光学特性、缺陷、残余应力、弱吸收和抗激光损伤阈值.发现离子束反应辅助沉积的二氧化铪薄膜具有低的缺陷密度和高的损伤阈值;双离子束溅射的二氧化铪薄膜具有高的折射率、高的残余应力和低的损伤阈值.对二氧化铪薄膜的损伤阈值与上述特性之间的依赖关系进行了讨论,发现残余应力是影响薄膜抗激光损伤阈值的一个重要原因.
公开日期2012-09-25
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/23912]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
阚珊珊. 沉积方式对HfO_2薄膜激光损伤阈值的影响[J]. 华中科技大学学报,2007(S1).
APA 阚珊珊.(2007).沉积方式对HfO_2薄膜激光损伤阈值的影响.华中科技大学学报(S1).
MLA 阚珊珊."沉积方式对HfO_2薄膜激光损伤阈值的影响".华中科技大学学报 .S1(2007).
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace