光谱型椭偏仪对各向异性液晶层的测量

	光谱型椭偏仪对各向异性液晶层的测量
	穆全全 ; 胡立发
刊名	物理学报
	2006-03-12
卷号	3 期号:55 页码:1055
ISSN号	1000-3290
中文摘要	探讨了利用普通光谱型椭偏仪对各向异性液晶层进行综合性测量的可行性.并利用法国JobinYvon公司的UVISELSPME(SpectroscopicPhaseModulatedEllipsometer)光谱型椭偏仪测量了光学各向异性液晶层的折射率no和ne及液晶层厚d,进一步利用椭偏仪在透射方式下测量了平行排列液晶层的光延迟特性Δnd,二者取得了很好的一致性,说明利用光谱型椭偏仪可以实现对光学单轴性液晶层及其他材料的测量,测厚精度为纳米量级.
收录类别	SCI
公开日期	2012-09-25
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/23698]
专题	长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	穆全全,胡立发. 光谱型椭偏仪对各向异性液晶层的测量[J]. 物理学报,2006,3(55):1055.
APA	穆全全,&胡立发.(2006).光谱型椭偏仪对各向异性液晶层的测量.物理学报,3(55),1055.
MLA	穆全全,et al."光谱型椭偏仪对各向异性液晶层的测量".物理学报 3.55(2006):1055.