机载光电成像设备的可测试性系统设计

	机载光电成像设备的可测试性系统设计
	刘晶红 ; 孙辉 ; 沈宏海
刊名	光学精密工程
	2008-12-02
期号	12
中文摘要	为提高机载光电成像系统的可测试性,对该设备进行了全面的可测试性系统设计。可测试性系统由自测试系统、测试信息口、外部测试系统3部分组成。采用模糊理论与专家系统相结合的方法,解决了目前产品普遍存在的可测试性设计考虑不足、自动化程度不高、故障诊断不到位等问题。实验显示,可测试性系统设计的设备故障诊断率达97%以上,说明在可测试性设计中采用模糊理论与专家系统相结合的方法是行之有效的。
收录类别	EI
公开日期	2012-09-25
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/23106]
专题	长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	刘晶红,孙辉,沈宏海. 机载光电成像设备的可测试性系统设计[J]. 光学精密工程,2008(12).
APA	刘晶红,孙辉,&沈宏海.(2008).机载光电成像设备的可测试性系统设计.光学精密工程(12).
MLA	刘晶红,et al."机载光电成像设备的可测试性系统设计".光学精密工程 .12(2008).