微扫描对光电成像系统图像噪声的影响

	微扫描对光电成像系统图像噪声的影响
	张新
刊名	光学技术
	2006-08-15
卷号	增刊期号:32 页码:425
ISSN号	1002-1582
中文摘要	介绍了光电成像系统的噪声,运用功率谱分析方法推导了插值技术对噪声的影响。插值技术使时间噪声的功率谱变大,使固定模式噪声功率谱的谱值出现再分配,引起图像质量的改善。用计算机进行了模拟实验。
收录类别	EI
公开日期	2012-09-25
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/22955]
专题	长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	张新. 微扫描对光电成像系统图像噪声的影响[J]. 光学技术,2006,增刊(32):425.
APA	张新.(2006).微扫描对光电成像系统图像噪声的影响.光学技术,增刊(32),425.
MLA	张新."微扫描对光电成像系统图像噪声的影响".光学技术增刊.32(2006):425.