TMC系统主镜的平板补偿自准检验方法

CORC > 长春光学精密机械与物理研究所 > 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 > 中科院长春光机所知识产出

	TMC系统主镜的平板补偿自准检验方法
	金光 ; 钟兴 ; 魏秀东
刊名	光电工程
	2010-04-20
卷号	37 期号:4 页码:83-87
ISSN号	1003-501X
中文摘要	针对TMC(三镜卡塞格林)光学系统凹椭球面主镜的检验,本文提出了一种平板补偿的自准检验方法。该方法克服了OFFENER零位补偿器本身性能难以检验,只能靠加工和装调保证精度的问题。针对TMC主镜面形与抛物面接近的特点,对平板补偿的自准检验方案进行了理论分析,利用二次非球面的法线像差性质推导了检验光路中球差的表达式,并利用最小剩余球差进行补偿平板参数的确定。对某TMC系统顶点曲率1589mm,二次系数-0.983,口径Φ500mm的主镜检验,设计了尺寸仅为Φ34.2mm×9.1265mm的补偿平板。在ZEMAX中计算的结果表明,经平板补偿后的检验光路波像差RMS值为0.003λ,可满足TMC主镜的高精度检验要求。对补偿平板的检验方法,以及加工和使用中应当采取的措施也进行了考虑。与常用检验方法相比,本文方法具有容易对平板性能进行检验,成本低、研制周期短等优点。
公开日期	2012-09-25
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/22607]
专题	长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	金光,钟兴,魏秀东. TMC系统主镜的平板补偿自准检验方法[J]. 光电工程,2010,37(4):83-87.
APA	金光,钟兴,&魏秀东.(2010).TMC系统主镜的平板补偿自准检验方法.光电工程,37(4),83-87.
MLA	金光,et al."TMC系统主镜的平板补偿自准检验方法".光电工程 37.4(2010):83-87.