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	Study on the destruction mechanism caused by dynamic avalanche in GCTs
	Yang, Wuhua; Wang, Cailin; Yang, Jing
	2019
卷号	92页码:34-41
关键词	Power semiconductor device Gate commutated thyristor Dynamic avalanche Current filament Destruction mechanism
ISSN号	0026-2714
DOI	10.1016/j.microrel.2018.11.001
URL标识	查看原文
WOS记录号	WOS:000456760500005
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4969943
专题	西安理工大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Yang, Wuhua,Wang, Cailin,Yang, Jing. Study on the destruction mechanism caused by dynamic avalanche in GCTs[J],2019,92:34-41.
APA	Yang, Wuhua,Wang, Cailin,&Yang, Jing.(2019).Study on the destruction mechanism caused by dynamic avalanche in GCTs.,92,34-41.
MLA	Yang, Wuhua,et al."Study on the destruction mechanism caused by dynamic avalanche in GCTs".92(2019):34-41.

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