| 核-壳结构界面对纳米Ag掺杂BaTiO3@PDA/P(VDF-HFP)复合膜介电和储能性能影响 | |
| 夏卫民; 张慧慧; 顾玉娇 | |
| 2019 | |
| 卷号 | 36页码:2042-2050 |
| 关键词 | BaTiO3 聚偏氟乙烯-六氟丙烯 介电 储能 核-壳结构 |
| ISSN号 | 1000-3851 |
| DOI | 10.13801/j.cnki.fhclxb.20181224.001 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4967961 |
| 专题 | 西安理工大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 夏卫民,张慧慧,顾玉娇. 核-壳结构界面对纳米Ag掺杂BaTiO3@PDA/P(VDF-HFP)复合膜介电和储能性能影响[J],2019,36:2042-2050. |
| APA | 夏卫民,张慧慧,&顾玉娇.(2019).核-壳结构界面对纳米Ag掺杂BaTiO3@PDA/P(VDF-HFP)复合膜介电和储能性能影响.,36,2042-2050. |
| MLA | 夏卫民,et al."核-壳结构界面对纳米Ag掺杂BaTiO3@PDA/P(VDF-HFP)复合膜介电和储能性能影响".36(2019):2042-2050. |
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