一种测量微小线位移的传感器 (实用新型) | |
倪学 ; 韩雪冰 | |
1996-10-23 | |
专利号 | 2238417 |
专利类型 | 实用新型 |
权利人 | 中国科学院长春光学精密机械研究所 |
中文摘要 | 本实用新型涉及一种采用光电方法来测量微小直线位移长度的传感器,它由基座1、轴承2、测轴3、检测元件4、读数头5、限位轴6、测头7组成。测轴采用精密直线运动导轨使测轴运动灵敏度提高,检测元件刻划面在测轴中心线上使阿贝误差等于零提高了测量精度。采用测轴和限位轴的双…… |
公开日期 | 1996-10-23 |
申请日期 | 1995-04-11 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | 95207794.9 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12838] |
专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 倪学,韩雪冰. 一种测量微小线位移的传感器 (实用新型). 2238417. 1996-10-23. |
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