对漫反射体反射和透过三维空间光分布的测量装置 (发明)
金锡峰 ; 乔德林 ; 周素香
1998-10-28
专利号1197208
专利类型发明专利
权利人中国科学院长春光学精密机械研究所
中文摘要本发明属于光学技术领域,涉及对漫反射物体特性的测量,特别是用于遥感技术领域中对地物叶面三维空间光分布进行测量的仪器。已有技术只有一只探测器对物体进行探测,得到两维空间光分布是不能满足对漫反射体空间光分布的测量需要。本发明由转盘、探测架、光源架、开关、探测器、光……
公开日期2012-09-14
申请日期1996-12-23
语种中文
专利申请号96114650.8
内容类型专利
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12630]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
金锡峰,乔德林,周素香. 对漫反射体反射和透过三维空间光分布的测量装置 (发明). 1197208. 1998-10-28.
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