Embedded microscope vision based mechanical platform for led wafer automatic inspection | |
Gao XY(高新岩); Li DK(李大奎) | |
2011 | |
会议名称 | Informatics in Control, Automation and Robotics |
页码 | 309-316 |
会议录 | Informatics in Control, Automation and Robotics
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URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 会议论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4852481 |
专题 | 大连理工大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Gao XY,Li DK. Embedded microscope vision based mechanical platform for led wafer automatic inspection[C]. 见:Informatics in Control, Automation and Robotics. |
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