| 纳米异向介质的缺陷模 | |
| 冯宇; 吴健; 宋建平; 钱兴中; 杨华; 潘艳 | |
| 刊名 | 电子器件
 |
| 2008 | |
| 期号 | 1页码:246-248 |
| 关键词 | 缺陷模 光刻精度 通带 纳米负折射指数物质 |
| ISSN号 | 1005-9490 |
| DOI | 10.3969/j.issn.1005-9490.2008.01.058 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4851617 |
| 专题 | 西安交通大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 冯宇,吴健,宋建平,等. 纳米异向介质的缺陷模[J]. 电子器件,2008(1):246-248. |
| APA | 冯宇,吴健,宋建平,钱兴中,杨华,&潘艳.(2008).纳米异向介质的缺陷模.电子器件(1),246-248. |
| MLA | 冯宇,et al."纳米异向介质的缺陷模".电子器件 .1(2008):246-248. |
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