| 共面负折射指数波导的电容缺陷对传输特性的影响 | |
| 冯宇; 吴健; 宋建平; 钱兴中; 杨华 | |
| 刊名 | 电子器件
 |
| 2008 | |
| 期号 | 2页码:453-456 |
| 关键词 | 传输属性 负折射指数 缺陷电感和电容 漏波负折射天线 |
| ISSN号 | 1005-9490 |
| DOI | 10.3969/j.issn.1005-9490.2008.02.018 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4850540 |
| 专题 | 西安交通大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 冯宇,吴健,宋建平,等. 共面负折射指数波导的电容缺陷对传输特性的影响[J]. 电子器件,2008(2):453-456. |
| APA | 冯宇,吴健,宋建平,钱兴中,&杨华.(2008).共面负折射指数波导的电容缺陷对传输特性的影响.电子器件(2),453-456. |
| MLA | 冯宇,et al."共面负折射指数波导的电容缺陷对传输特性的影响".电子器件 .2(2008):453-456. |
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