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	Atomistic modeling size dependence of nano-voided copper yielding under uniaxial tension
	Zhao, K.J.; Chen, C.
	2008
关键词	Atomistic calculations Atomistic modeling Dislocation emissions Embedded-atom method potentials Molecular dynamics simulations Size dependence Stress-strain response Void growth
页码	338-341
会议录	Advances in Heterogeneous Material Mechanics 2008 - Proceedings of the 2nd International Conference on Heterogeneous Material Mechanics, ICHMM 2008
URL标识	查看原文
ISSN号	9781932078800
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4848823
专题	西安交通大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Zhao, K.J.,Chen, C.. Atomistic modeling size dependence of nano-voided copper yielding under uniaxial tension[C]. 见:.

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