| 绝对位置测量装置 （乔栋等）(发明) | |
| 乔栋 ; 吴宏圣 ; 曾琪峰 ; 李也凡 ; 孙强 | |
| 2012-07-25 | |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 中文摘要 | 绝对位置测量装置，属于光电测量技术领域，为了解决现有绝对式测量中存在的抗污染能力差，对光学系统要求高的技术问题，本发明装置包括：保护介质、绝对位置条纹、发光器、凸透镜、光电传感器和位置读出模块，所述绝对位置条纹设置在保护介质内部，所述绝对位置条纹所在的平面与凸透镜主光轴垂直，所述光电传感器所在平面与凸透镜主光轴垂直；所…… |
| 公开日期 | 2012-08-29 |
| 专利申请号 | 201210090799.9 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12588]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 乔栋,吴宏圣,曾琪峰,等. 绝对位置测量装置 （乔栋等）(发明). 2012-07-25. |
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