| 一种用于航天材料空间环境辐照测量的原位光学测量装置 (发明) | |
| 刘世界 ; 何玲平 ; 王晓光 ; 陈波 | |
| 2012-08-01 | |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 中文摘要 | 一种用于航天材料空间环境辐照测量的原位光学测量装置，该装置用于真空室内的航天材料样品进行空间环境模拟辐照后，不改变材料样品状态及真空环境，直接对材料样品进行光学透射率，反射率及漫反射率测量，该装置包括光源部分和样品室部分，光源部分包括第一反射镜组件、钨灯组件、第一透镜组件、氘灯组件、第二透镜组件、调制扇组件、单色仪、光…… |
| 公开日期 | 2012-08-29 |
| 专利申请号 | 201210061742.6 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12248]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘世界,何玲平,王晓光,等. 一种用于航天材料空间环境辐照测量的原位光学测量装置 (发明). 2012-08-01. |
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