一种陀螺相位响应的测量装置及方法 (发明)
王德江
2011-04-20
专利类型发明专利
权利人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中文摘要本发明属于传感器技术指标测量领域,提出了一种陀螺相位响应的测量装置及方法。该装置包括待测陀螺,转台,电位计,数据采集与处理系统,电机驱动系统,各主要部件连接关系及技术要求如下:陀螺敏感角速度的方向应与转台转轴方向平行;转台的转矩要求平衡,转台转动时要保证电位计的值在0V~15V之间线形变化;数据采集系统与处理系统采用数……
公开日期2011-04-20
专利申请号200810051551.5
内容类型专利
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11546]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
王德江. 一种陀螺相位响应的测量装置及方法 (发明). 2011-04-20.
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