一种铁掺杂硫化镉稀磁半导体外延薄膜的制备方法 (发明)
武晓杰 ; 张吉英 ; 刘可为 ; 申德振 ; 范希武 ; 李炳生
2008-09-10
专利类型发明专利
权利人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中文摘要本发明涉及采用低压-金属有机化学气相沉积设备外延生长稀磁半导体合金薄膜的方法。首先选择晶格匹配较好的半导体衬底并进行清洗和600-650℃热处理。采用的反应源为:二甲基镉(DMCd),五羰基铁Fe(CO)↓[5]及硫化氢(H↓[2]S)。用H↓[2]作为载气。通过选择合适的反应源流速、沉积温度及生长室压力等参数及对Cd……
公开日期2008-09-10
专利申请号200510017029.1
内容类型专利
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11375]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
武晓杰,张吉英,刘可为,等. 一种铁掺杂硫化镉稀磁半导体外延薄膜的制备方法 (发明). 2008-09-10.
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