| 半导体激光器光、电特性综合测量方法 (发明) | |
| 宁永强 ; 刘云 ; 王立军 ; 朱万彬 ; 李丽娜 ; 刘星元 | |
| 2002-08-21 | |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 中文摘要 | 本发明涉及一种对半导体激光器光－电特性测试装置及方法的改进。为了解决上述技术结构相对复杂，测量时间长等问题，本发明使取样电阻与待测半导体激光器并联，待测半导体激光器的激光准直平行后经过分光，分别进入到光二极管和探测器其光强信号及光谱信号进入计算机，经过程序处理后即测量得到所需的半导体激光器各参数，则完成半导体激光器光、…… |
| 公开日期 | 2012-08-29 |
| 专利申请号 | 1124618.9 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11195]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 宁永强,刘云,王立军,等. 半导体激光器光、电特性综合测量方法 (发明). 2002-08-21. |
| 个性服务 |
| 查看访问统计 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论