| 一种掠发射X射线荧光分析用样品制备装置 (发明) | |
| 巩岩 ; 陈波 | |
| 2004-09-15 | |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 中文摘要 | 一种掠发射Ｘ射线荧光分析用样品制备装置，属于Ｘ射线荧光分析应用技术领域中的一种荧光分析用样品的制备装置。本发明要解决的技术问题是：使被待测分析物质产生高温等离子体，高速喷发沉积在透明载物片上，形成待测样品，解决技术问题的技术方案是：采用脉冲宽度足够窄的激光器作光源，选择非球面聚光镜聚焦激光能量，待测物的载台沿光轴方向可…… |
| 公开日期 | 2004-09-15 |
| 专利申请号 | 2109015.7 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11178]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 巩岩,陈波. 一种掠发射X射线荧光分析用样品制备装置 (发明). 2004-09-15. |
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