光学系统光轴与其安装基面垂直度的检测方法 (发明) | |
叶露 ; 刘则洵 ; 韩冰 | |
2008-08-13 | |
专利类型 | 发明专利 |
权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
中文摘要 | 一种属于光学仪器检测技术领域的光学系统光轴与其安装基面垂直度的检测方法:将被测光学系统置于调平台上的精密转台上,其上方架设一台平行光管,通过转动精密转台和调整调平台使平行光管与精密转台轴线相平行;精密转台上平面反射镜的上方架设自准直仪,使自准直仪与平面反射镜自准成像,记录自准直仪的方位角度;调整调平台至电十字丝的像与平…… |
公开日期 | 2008-08-13 |
专利申请号 | 200510016792.2 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11159] |
专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 叶露,刘则洵,韩冰. 光学系统光轴与其安装基面垂直度的检测方法 (发明). 2008-08-13. |
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