| 基于同步辐射白光形貌术和X射线迹线法的6H-SiC单晶结构缺陷研究 | |
| 胡小波 | |
| 刊名 | 广西科学
 |
| 2015 | |
| 期号 | 05页码:457-461 |
| 关键词 | 基本螺位错 基平面弯曲 6H-SiC单晶 同步辐射白光形貌术 X射线迹线法 |
| DOI | 10.3969/j.issn.1005-9164.2015.05.001 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4772623 |
| 专题 | 山东大学 |
| 作者单位 | 山东大学晶体材料国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 胡小波. 基于同步辐射白光形貌术和X射线迹线法的6H-SiC单晶结构缺陷研究[J]. 广西科学,2015(05):457-461. |
| APA | 胡小波.(2015).基于同步辐射白光形貌术和X射线迹线法的6H-SiC单晶结构缺陷研究.广西科学(05),457-461. |
| MLA | 胡小波."基于同步辐射白光形貌术和X射线迹线法的6H-SiC单晶结构缺陷研究".广西科学 .05(2015):457-461. |
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