| 题名 | 干涉仪测量电子储存环束流截面的研究 |
| 作者 | 陈杰 |
| 学位类别 | 博士 |
| 答辩日期 | 2012-05 |
| 导师 | 叶恺容 |
| 关键词 | 上海光源 干涉仪 束流截面尺寸 |
| 学位专业 | 核技术及应用 |
| 中文摘要 | 对于第三代光源发射度是表征电子储存环束流品质的重要参数，第三代光源发射度小，同步光探测器是发射度测量的重要手段。测量发射度需要先测出束流截面尺寸。为了以无损方式测量上海光源电子储存环束流截面尺寸的需求，本论文开展了同步辐射空间干涉仪的研究，并与其他测量方法比较、分析了其对于微米量级小尺寸束斑测量独有的优点，并对该系统进行了系统的分析和标定，针对影响测量的一些具体因素提出解决方案并加以实施。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-08-15 |
| 内容类型 | 学位论文 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/9700]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈杰. 干涉仪测量电子储存环束流截面的研究[D]. 2012. |
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