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一种多通道的光学元件表面颗粒散射测量系统及方法
余健辉[1]; 陈哲[1]; 周俊杰[1]; 冯凯[1]; 谢梦圆[1]; 梁富念[1]; 赵晓萌[1]; 罗云瀚[1]
公开日期2016
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内容类型专利
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4746881
专题暨南大学
作者单位[1]暨南大学
推荐引用方式
GB/T 7714
余健辉[1],陈哲[1],周俊杰[1],等. 一种多通道的光学元件表面颗粒散射测量系统及方法.
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