荧光寿命成像技术及其研究进展 | |
刘超; 王新伟![]() ![]() | |
刊名 | 激光与光电子学进展
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2011 | |
卷号 | 48期号:11页码:111102-1-111102-6 |
中文摘要 | 荧光寿命显微成像(FLIM)技术是一种新颖的荧光成像技术,具有其他荧光成像方法无法替代的优异性能,是生物医学工程领域的研究热点。频域调制、门控探测和时间相关单光子计数(TCSPC)是FLIM的几种主要实现方法。综述了这些技术的原理、研究现状和已取得的部分成果,比较了这三种方法的时间分辨率和成像速度等参数的优劣。宽场FLIM更适用于延时成像和实时成像。荧光偏振各相异性成像和内窥镜FLIM技术都是FLIM技术很有前景的应用方向。 |
学科主题 | 光电子学 |
收录类别 | CSCD |
资助信息 | 基金 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2012-07-17 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23262] ![]() |
专题 | 半导体研究所_光电系统实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘超,王新伟,王新伟,等. 荧光寿命成像技术及其研究进展[J]. 激光与光电子学进展,2011,48(11):111102-1-111102-6. |
APA | 刘超,王新伟,王新伟,&刘超.(2011).荧光寿命成像技术及其研究进展.激光与光电子学进展,48(11),111102-1-111102-6. |
MLA | 刘超,et al."荧光寿命成像技术及其研究进展".激光与光电子学进展 48.11(2011):111102-1-111102-6. |
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