CORC  > 山东大学
脉冲偏压对磁控溅射制备ITO薄膜性能的影响
王昆仑; 辛艳青
刊名真空
2018
期号02页码:30-33
关键词ITO薄膜 磁控溅射 脉冲偏压 电学特性
DOI10.13385/j.cnki.vacuum.2018.02.08
URL标识查看原文
公开日期[db:dc_date_available]
内容类型期刊论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4573813
专题山东大学
作者单位山东大学空间科学与物理学院
推荐引用方式
GB/T 7714
王昆仑,辛艳青. 脉冲偏压对磁控溅射制备ITO薄膜性能的影响[J]. 真空,2018(02):30-33.
APA 王昆仑,&辛艳青.(2018).脉冲偏压对磁控溅射制备ITO薄膜性能的影响.真空(02),30-33.
MLA 王昆仑,et al."脉冲偏压对磁控溅射制备ITO薄膜性能的影响".真空 .02(2018):30-33.
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace