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	Inversion of TEM conductive thin layer based on genetic algorithm
	Wenbo, Guo; Guoqiang, Xue; Nannan, Zhou; Xiu, Li
	2011
关键词	Calculation precision Calculation speed Feasible regions Imaging parameters Longitudinal conductances Non linear inversion Thin layers Transient electromagnetic methods
卷号	226 CCIS
期号	[db:dc_citation_issue]
DOI	[db:dc_identifier_doi]
页码	10-17
会议录	Communications in Computer and Information Science
URL标识	查看原文
ISSN号	1865-0929
WOS记录号	[DB:DC_IDENTIFIER_WOSID]
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4492900
专题	西安交通大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Wenbo, Guo,Guoqiang, Xue,Nannan, Zhou,et al. Inversion of TEM conductive thin layer based on genetic algorithm[C]. 见:.

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