Nephelauxetic效应研究 | |
张思远 | |
刊名 | 发光学报
![]() |
1982 | |
期号 | 3页码:12-18 |
关键词 | 晶场劈裂 Slater积分 能级差 晶场作用 自由离子 效应研究 晶场哈密顿量 晶体 配位体 |
ISSN号 | 1000-7032 |
通讯作者 | 张思远 |
中文摘要 | 本文对Nephelauxetic效应的产生原因进行了研究讨论,指出了这种效应的主要依赖因素是i(键的离子化程度),M(配位数)和R(中心金属离子和配位体间的平均键长)。向时,也指出了产生正,反Nephelauxetic效应的条件。讨论了稀士系列化合物的能级移动规律和合理的解释了固体中光潜线的红移和蓝移。 |
收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2012-06-15 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/47169] ![]() |
专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张思远. Nephelauxetic效应研究[J]. 发光学报,1982(3):12-18. |
APA | 张思远.(1982).Nephelauxetic效应研究.发光学报(3),12-18. |
MLA | 张思远."Nephelauxetic效应研究".发光学报 .3(1982):12-18. |
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